对比试样校准概述
是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，对比试样校准，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；
对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗，用滤纸擦干，保持表面清洁，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定)，调整试样，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换至高放大倍数对试样聚焦，调整载物台及试样，使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备，使测量面聚焦清晰，对比试样校准哪家好，选择测量点位。
对比试样校准探头选择
超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存，下次开机时，对比试样校准报价，探头为本次选择的探头。为保证仪器精度和稳定性，建议不要互换探头。仪器使用后，应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。
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